接觸電阻率和薄層電阻 TLM-SCAN+
前金屬化的接觸電阻是對(duì)絲網(wǎng)印刷太陽(yáng)能電池的總串聯(lián)電阻的重要貢獻(xiàn)。 具有合適測(cè)試結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)移長(zhǎng)度方法是將接觸電阻與其他串聯(lián)電阻效應(yīng)分開(kāi)的最佳方法。 然而，接觸電阻可以在太陽(yáng)能電池上顯著變化，因此需要在成品太陽(yáng)能電池上以空間分辨率測(cè)量它的方法。 TLM-SCAN產(chǎn)生太陽(yáng)能電池的接觸電阻率的映射，該太陽(yáng)能電池用激光或切割鋸切割成條紋。

右側(cè)的映射顯示了分辨率和可重復(fù)性，因?yàn)樗@示了14次測(cè)量的相同條帶。

接觸電阻率測(cè)量?jī)x

這款緊湊型儀器測(cè)量成品太陽(yáng)能電池的接觸電阻率，手指線電阻，手指寬度和手指高度，或者測(cè)試結(jié)構(gòu)。

通過(guò)在所有軸上電動(dòng)化，可以通過(guò)按一個(gè)按鈕來(lái)創(chuàng)建所有這些方法的地圖。

用于測(cè)量薄擴(kuò)散層的薄層電阻和晶圓電阻率的四點(diǎn)探頭，使得TLM-SCAN 成為一種低成本，快速，高質(zhì)量的四點(diǎn)探針貼圖儀。

使操作更簡(jiǎn)單的功能：
自動(dòng)位置校正以獲得最佳接觸質(zhì)量
蓋子關(guān)閉時(shí)自動(dòng)啟動(dòng)
自動(dòng)采樣編號(hào)
軟件探頭識(shí)別
精確的導(dǎo)航與歡樂(lè)棒和顯微鏡相機(jī)
通過(guò)點(diǎn)擊圖像來(lái)探測(cè)定位和重新測(cè)量單點(diǎn)
一個(gè)樣品上多個(gè)TLM測(cè)試圖案的批處理模式
序列模式通過(guò)按一個(gè)按鈕來(lái)測(cè)量接觸電阻率和手指幾何圖形的映射

Contact resistivity and more

Contact resistivity and sheet resistance

The contact resistance of the front metallization is an important contribution to the total series resistance of screen-printed solar cells. The transfer length method with a suitable test structure is the best method to separate the contact resistance from other series resistance effects. However, the contact resistance may vary considerably over the solar cell so a method to measure it with spatial resolution on the finished solar cell is necessary. The TLM-SCAN creates mappings of the contact resistivity of a solar cell that is cut into stripes with a laser or a dicing saw.

The mapping on the right demonstrates the resolution and repeatabilty as it shows the same stripe measured 14 times.