波長

 190 – 400 nm

400 – 1100   nm

400 – 1100 nm

1,5 – 1,6   μm

0,4 – 1,7   μm

1,2 – 5,5   μm

3 – 5 μm   and
  8 – 14 μm

8 – 14 μm

孔徑

8.0 × 8.0 mm2

3.6 × 4.8 mm2

8.9 × 11.8 mm2

3.6 × 4.8 mm2

9.6 × 7.68 mm2

9.60 x   7.68 mm2

10.08 ×8.16mm2

16 x 12   mm2

空間分辨率

32 μm

29,6 μm

29,6 μm

29,6 μm

60 μm

60 μm

68 μm

100 μm

采樣點

250 x 250

160 x 120

300 x 400

160 x 120

160 x 128

160 x 128

160 x 120

160 x 120

精度 (絕對精度)

10 nm RMS

10 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

15 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

75 nm RMS

分辨率（靈敏度）

0,5 nm RMS

< 2 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 11 nm   RMS

< 2 nm   RMS

< 3 nm   RMS

25 nm RMS

25 nm RMS

動態(tài)范圍

> 200   μm

> 100   μm

> 500   μm

> 100   μm

> 100   μm

300 μm

> 100   μm

> 100   μm

采樣頻率

30 fps

> 100 fps

> 30 fps

60 fps

120 fps

140 fps

> 50   fps

40 fps

        作為光學(xué)測量設(shè)備，Kaleo 可測量球面鏡，非球面鏡，人工眼睛晶狀體, 光學(xué)物鏡等。
        基于菲茲克斯的獨創(chuàng)性波陣面技術(shù)（4 波橫向剪切干涉法），KALEO 可對透鏡進行全面而精確的評估。它可測量球面和非球面系統(tǒng)的像差，MTF，PSF，和焦距。
        該技術(shù)可直接測量數(shù)值孔徑達0.75的光學(xué)系統(tǒng)而無需任何中繼透鏡。

       Kaleo-T 的優(yōu)勢
        一束經(jīng)過校正并準(zhǔn)直的光束經(jīng)過需評估的透鏡后由波陣面探測器進行分析，盡管經(jīng)透鏡后的光束可能是高度發(fā)散的，但在透鏡和波陣面探測器之間并不需要任何中繼透鏡。菲茲克斯發(fā)明的用于光學(xué)測量的技術(shù)的主要優(yōu)點是可獲得高分辨率的位相圖，從而可非常精確地測出任何光學(xué)系統(tǒng)的像差和MTF等特性參數(shù)。該儀器的設(shè)計非常緊湊并且對環(huán)境振動不敏感。KALEO將人性化考量及便于測量操作設(shè)計進了其非?？煽康能浖?。它的測試報告格式可按用戶需求量身定做。在工業(yè)生產(chǎn)中，KALEO在生產(chǎn)線上和技術(shù)開發(fā)部門都可應(yīng)用。 

        Kaleo-T 詳細技術(shù)指標(biāo)