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法國(guó)PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測(cè)器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍、操作簡(jiǎn)便等獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。為波前像差、波前畸變的檢測(cè)以及激光光束及波前的測(cè)量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案!
PHASICS波前探測(cè)器配套的軟件界面友好,可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強(qiáng)度分布圖。
◆高分辨率(高達(dá)300 x400個(gè)采樣點(diǎn)) ◆消色差 ◆高動(dòng)態(tài)范圍 ◆高靈敏度 ◆操作簡(jiǎn)便 ◆設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔緊湊
◆高分辨率的相位圖能夠提供高分辨率的相位圖。標(biāo)準(zhǔn)分辨率為160x120個(gè)采樣點(diǎn),最高分辨率可達(dá)400x300。高分辨率的探測(cè)器能精確測(cè)量鏡片像差,并能做到較高的測(cè)量重復(fù)性。
◆具有直接測(cè)量高發(fā)散光束的能力我們的波前探測(cè)技術(shù)具有直接測(cè)量光路系統(tǒng)相差的能力,并且無(wú)需額外的過(guò)渡鏡。
◆消色差SID4探測(cè)器能夠匹配CCD整個(gè)探測(cè)范圍,用于不同波長(zhǎng)光而無(wú)需額外校準(zhǔn),也能用于多色光源。
◆對(duì)準(zhǔn)方便SID4探測(cè)器無(wú)需精確的,很繁冗的校準(zhǔn)步驟,分析算法為校準(zhǔn)波前探測(cè)器提供便利。
◆符合人體工程學(xué)原理設(shè)計(jì)緊湊的SID4探測(cè)器配置了電腦和專用KALEO軟件,其友好的人機(jī)界面使光學(xué)測(cè)量過(guò)程更符合人體工程學(xué)原理。
◆光學(xué)測(cè)量專用的KALEO軟件SID4探測(cè)器為光學(xué)測(cè)量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測(cè)量中提供完整的測(cè)量項(xiàng)目的光學(xué)量值特征:相差,PSF,MTF,有效焦距等。定制的特征報(bào)告也可編輯。
型號(hào) | SID4 UV-HR | SID4 | SID4 HR | SID4 NIR | SID4 SWIR | SID4 IR-MCT | SID4 DWIR | SID4 LWIR |
波長(zhǎng) | 190 – 400 nm | 400 – 1100 nm | 400 – 1100 nm | 1,5 – 1,6 μm | 0,4 – 1,7 μm | 1,2 – 5,5 μm | 3 – 5 μm and 8 – 14 μm | 8 – 14 μm |
孔徑 | 8.0 × 8.0 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 8.9 × 11.8 mm2 | 3.6 × 4.8 mm2 | 9.6 × 7.68 mm2 | 9.60 x 7.68 mm2 | 10.08 ×8.16mm2 | 16 x 12 mm2 |
空間分辨率 | 32 μm | 29,6 μm | 29,6 μm | 29,6 μm | 60 μm | 60 μm | 68 μm | 100 μm |
采樣點(diǎn) | 250 x 250 | 160 x 120 | 300 x 400 | 160 x 120 | 160 x 128 | 160 x 128 | 160 x 120 | 160 x 120 |
精度 (絕對(duì)精度) | 10 nm RMS | 10 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 15 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS | 75 nm RMS |
分辨率(靈敏度) | 0,5nm RMS | < 2 nm RMS | < 2 nm RMS | <11nm MS | <2 nm RMS | < 3 nm RMS | 25 nm RMS | 25 nm RMS |
動(dòng)態(tài)范圍 | > 200 μm | > 100 μm | > 500 μm | > 100 μm | > 100 μm | 300 μm | > 100 μm | > 100 μm |
采樣頻率 | 30 fps | > 100 fps | > 30 fps | 60 fps | 120 fps | 140 fps | > 50 fps | 40 fps |
◆激光束質(zhì)量分析
◆自適應(yīng)光學(xué)
◆光學(xué)元件表面測(cè)量
◆生物成像
◆熱成像,等離子體表面物理
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