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光矢量分析儀
 
   
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光矢量分析儀

光矢量分析儀

  • 貨  號:ECS000790
  • 銷售價:
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  (庫存10)
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產(chǎn)品屬性
波長范圍 1265~1335nm 或 1525~1610nm
波長分辨率 1.6pm
波長精度 ±1.5pm
波長重復(fù)性 ±0.1pm
光相位誤差 ±0.05rad
損耗測量動態(tài)范圍 60dB
損耗測量文波 ±0.05dB
損耗測量分辨率 ±0.05dB
插損測量精度 ±0.1dB
回?fù)p測量精度 ±0.2dB
色散測量精度 ±10ps/nm
群時延測量范圍 6ns
群時延測量精度 ±0.2ps
群時延損耗范圍 45dB
PMD測量范圍 6ns
1階PMD測量精度 ±0.03ps(100pm 步長) ±0.15ps(30pm 步長)
2階PMD測量精度 ±10ps2
PMD損耗范圍 40dB
PDL測量范圍 40dB
PDL測量精度 ±0.05dB
激光器掃描速度 70nm/s
全參數(shù)測量速度 30ms/nm
實(shí)時測量刷新速率 1Hz
最大器件測試長度(透射測量) 150m
最大器件測試長度(反射測量) 75m
重量 16.24kg
尺寸 473 ×420×206mm

產(chǎn)品簡介:

光矢量分析儀(OVA 5000)是目前業(yè)內(nèi)速度最快、測量最準(zhǔn)確、性價比最高的一款損耗、色散、偏振測量設(shè)備。只需要簡單地將待測器件連接到設(shè)備上,通過一次激光掃描,即可完成諸多器件(如耦合器、特種光纖、FBG、AWG、濾波器、放大器等)的IL、RL、PDL、CD、PMD、GD全參數(shù)測量。該產(chǎn)品憑借其全參數(shù)、快速、高精度測量的絕對優(yōu)勢,擊敗了所有競爭對手,2002~2005年,連續(xù)4年獲得FROST & SULLIVAN大獎。該產(chǎn)品一機(jī)多用,大大降低了成本,是無源器件、光模塊產(chǎn)品研制和生產(chǎn)的首選測量儀器。

產(chǎn)品特性:

■ 單次掃描,即可完成IL、RL、PDL、CD、PMD、GD的全參數(shù)測量

■ 3s即可完成器件在 C+L 波段的特性測量

■ 器件長度最長達(dá)150m

■ 測量分辨率高

■ 波段范圍:C、C+L、O 波段

■ 測量速度快,能夠?qū)崟r監(jiān)測并調(diào)整元器件

■ 體積小,綜合性價比高

應(yīng)用領(lǐng)域:

■ 光無源器件測量

■ 生物醫(yī)療

■ 光模塊產(chǎn)品研制和生產(chǎn)

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