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波長范圍 | 1265~1335nm 或 1525~1610nm |
波長分辨率 | 1.6pm |
波長精度 | ±1.5pm |
波長重復(fù)性 | ±0.1pm |
光相位誤差 | ±0.05rad |
損耗測量動態(tài)范圍 | 60dB |
損耗測量文波 | ±0.05dB |
損耗測量分辨率 | ±0.05dB |
插損測量精度 | ±0.1dB |
回?fù)p測量精度 | ±0.2dB |
色散測量精度 | ±10ps/nm |
群時延測量范圍 | 6ns |
群時延測量精度 | ±0.2ps |
群時延損耗范圍 | 45dB |
PMD測量范圍 | 6ns |
1階PMD測量精度 | ±0.03ps(100pm 步長) ±0.15ps(30pm 步長) |
2階PMD測量精度 | ±10ps2 |
PMD損耗范圍 | 40dB |
PDL測量范圍 | 40dB |
PDL測量精度 | ±0.05dB |
激光器掃描速度 | 70nm/s |
全參數(shù)測量速度 | 30ms/nm |
實(shí)時測量刷新速率 | 1Hz |
最大器件測試長度(透射測量) | 150m |
最大器件測試長度(反射測量) | 75m |
重量 | 16.24kg |
尺寸 | 473 ×420×206mm |
產(chǎn)品簡介:
光矢量分析儀(OVA 5000)是目前業(yè)內(nèi)速度最快、測量最準(zhǔn)確、性價比最高的一款損耗、色散、偏振測量設(shè)備。只需要簡單地將待測器件連接到設(shè)備上,通過一次激光掃描,即可完成諸多器件(如耦合器、特種光纖、FBG、AWG、濾波器、放大器等)的IL、RL、PDL、CD、PMD、GD全參數(shù)測量。該產(chǎn)品憑借其全參數(shù)、快速、高精度測量的絕對優(yōu)勢,擊敗了所有競爭對手,2002~2005年,連續(xù)4年獲得FROST & SULLIVAN大獎。該產(chǎn)品一機(jī)多用,大大降低了成本,是無源器件、光模塊產(chǎn)品研制和生產(chǎn)的首選測量儀器。
產(chǎn)品特性:
■ 單次掃描,即可完成IL、RL、PDL、CD、PMD、GD的全參數(shù)測量
■ 3s即可完成器件在 C+L 波段的特性測量
■ 器件長度最長達(dá)150m
■ 測量分辨率高
■ 波段范圍:C、C+L、O 波段
■ 測量速度快,能夠?qū)崟r監(jiān)測并調(diào)整元器件
■ 體積小,綜合性價比高
應(yīng)用領(lǐng)域:
■ 光無源器件測量
■ 生物醫(yī)療
■ 光模塊產(chǎn)品研制和生產(chǎn)