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WCT-120TS變溫少子壽命測試儀
 
   
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WCT-120TS變溫少子壽命測試儀

分別采用QSSPC方法和變溫法得出硅片的少子壽命測試儀

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WCT-120TS是依賴溫度的少子壽命測試儀，他提供變溫少數(shù)載流子復合壽命。太陽能電池是對溫度敏感的器件，在高溫下電池性能下降，而少子壽命是電池性能的一個重要指征。

產(chǎn)品概述

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該wct-120ts少子壽命測試儀展示了獨特的測量和分析技術(shù)。wct-120儀器分別采用由辛頓儀器變溫（溫度范圍從25到200??/span>C ）和準穩(wěn)態(tài)光電導法得到硅片的載流子復合壽命。

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wct-120ts系統(tǒng)能力

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主要應用：

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在一個溫度范圍內(nèi)測量硅片的少數(shù)載流子復合壽命。

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其它功能：

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溫度和注入相關(guān)的少子壽命的周期結(jié)果。

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應用于：

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??初始材料（硅片）質(zhì)量監(jiān)控

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??晶圓（硅片）加工過程中重金屬污染的檢測

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??評價表面鈍化和發(fā)射極的摻雜劑擴散

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??使用隱含的I-V測量評價過程中引入的漏電流

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上圖為溫度和注入相關(guān)的壽命測量結(jié)果r

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