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SpotOn USB2.0位敏探測(cè)器  
SpotOn USB2.0位敏探測(cè)器
以色列Duma Optronics 公司于1989年成立,是一家專(zhuān)業(yè)從事激光光束自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類(lèi)型豐富,功能全面。公司的Beam Analysis光束質(zhì)量分析儀主要有三種類(lèi)型:CCD類(lèi)型分析儀(最新產(chǎn)品)、亞毫米光束分析儀、刀口法類(lèi)型分析儀。
激光功率計(jì)、能量計(jì)  
激光功率計(jì)、能量計(jì)
Coherent相干 激光功率計(jì)、能量計(jì),溫差耦合技術(shù)、半導(dǎo)體/光學(xué)技術(shù)、熱釋電技術(shù)
BeamOn光束分析儀  
BeamOn光束分析儀
以色列Duma Optronics 公司于1989年成立,是一家專(zhuān)業(yè)從事激光光束自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類(lèi)型豐富,功能全面。公司的Beam Analysis光束質(zhì)量分析儀主要有三種類(lèi)型:CCD類(lèi)型分析儀(最新產(chǎn)品)、亞毫米光束分析儀、刀口法類(lèi)型分析儀。
BeamOn U3光束分析儀  
BeamOn U3光束分析儀
Duma公司最新推出光斑分析儀BeamOn U3,具有大尺寸光斑輪廓(1/1.2英寸),USB3.0輸出,同時(shí)具有自動(dòng)濾光片轉(zhuǎn)輪。這款新的光斑分析儀具有全新的軟件界面,包括精確功率測(cè)量和用于數(shù)據(jù)分析的算法。這款光斑分析儀具有兩個(gè)版本:幀速為40fps和150fps。高像素密度可以靈活測(cè)量小光斑和大光斑。符合ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)。
7290A 紅外相機(jī)  
7290A 紅外相機(jī)
MicronViewer 7290A 是一款近紅外的攝像機(jī),光譜響應(yīng)覆蓋0.4 - 1.9 μm(2.2 μm可選)。產(chǎn)品設(shè)計(jì)精巧,外觀精美,操作便利,可方便集成于實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)或檢測(cè)設(shè)備中。該攝像機(jī)具有高靈敏度,高分辨率特性,是探測(cè)光信號(hào)微弱的理想產(chǎn)品。其結(jié)構(gòu)緊湊,價(jià)格低廉,在光通信領(lǐng)域中應(yīng)用十分廣泛。
BeamAnalyzer光束分析儀  
BeamAnalyzer光束分析儀
精確性高:0.1 μm分辨率@3~9 μm直徑光束寬光譜響應(yīng) 190 nm -1990 nm操作方便,用戶界面簡(jiǎn)單多功能性:光束輪廓、尺寸、位置及功率測(cè)量
μbeam微光束分析儀  
μbeam微光束分析儀
極微型光束尺寸探測(cè)小于0.5μm(FWHM)測(cè)試方式完整 CW及脈沖光均適用寬光譜響應(yīng)范圍寬功率測(cè)量范圍,μW至數(shù)W工作距離長(zhǎng)(物鏡至物點(diǎn))高分辨率、高靈敏度CCD設(shè)備快速搜光能力出色的快速對(duì)焦能力易操作的軟件界面
BeamOn HR CCD光束分析儀  
BeamOn HR CCD光束分析儀
精確性高:0.1 μm分辨率@3~9 μm直徑光束精確: 高分辨率CCD(12bit動(dòng)態(tài)范圍)多功能:完整的測(cè)試平臺(tái)(包括輪廓,功率,位置探測(cè))CW及脈沖光均適用操作簡(jiǎn)單:易操作軟件配件:完整配件包(含縮束RDC及高能量衰減器)
BeamOn WSR廣譜CCD光束分析儀  
BeamOn WSR廣譜CCD光束分析儀
廣域光譜范圍190 nm至1600 nm測(cè)試方式完整CW及脈沖光均可測(cè)激光光束2D/3D實(shí)時(shí)圖顯光束測(cè)量診斷、光束定位功能數(shù)據(jù)記錄,數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)詳解分析用戶易操作軟件、故障在線幫助
BeamOn HP高功率光束分析儀  
BeamOn HP高功率光束分析儀
精確性高:0.1 μm分辨率@3~9 μm直徑光束光束測(cè)量尺寸200 μm - 4.5 mm?寬光譜響應(yīng) 350 nm - 1310 nm?可測(cè)量功率密度高100,000 W/cm^2?連續(xù)光及脈沖光均可探測(cè)CW 1-2500 W,Pulse 1-1000 W激光采集器只采集10%的輸入能量測(cè)量,可以實(shí)時(shí)檢測(cè)精確度:2%準(zhǔn)確率,0.1 μm分辨
BeamOn專(zhuān)用配件  
BeamOn專(zhuān)用配件
RDC實(shí)現(xiàn)幾乎無(wú)損光譜信息的縮束SAM最高衰減率2000:1,使BeamOn的最大探測(cè)功率由50 mW增至100 W提供配套支架,使所有配件與BeamOn一體化搭建
SpotOn CCD位敏探測(cè)器  
SpotOn CCD位敏探測(cè)器
高分辨率光束位置測(cè)量設(shè)備,具有亞微米分辨率。系統(tǒng)最高可以同時(shí)測(cè)量3個(gè)光斑,連續(xù)和脈沖激光都可以。光譜響應(yīng)范圍寬,從深紫外,可見(jiàn),到1550nm。高精度測(cè)量——誤差小于5um。便攜式(USB視頻設(shè)備,PCI卡可選),通過(guò)RS232數(shù)據(jù)導(dǎo)出到電腦,數(shù)據(jù)記錄和詳細(xì)分析,ActiveX控制集成到用戶軟件中??稍赪indows 2000/XP/Vista/7 32 &64 bits操作。
TIA-525I-FC  
TIA-525I-FC
美國(guó)TTI O/E轉(zhuǎn)換模塊(光電轉(zhuǎn)換器)TIA-525S O/E轉(zhuǎn)換模塊探測(cè)器 TIA-525I-FC
便攜式、高精度光學(xué)傳遞函數(shù)(MTF)測(cè)量?jī)x  
便攜式、高精度光學(xué)傳遞函數(shù)(MTF)測(cè)量?jī)x
法國(guó)Phasics公司高精度MTF測(cè)量?jī)x可以提供全面的鏡頭測(cè)試:軸上MTF,軸外MTF,波前像差,EFL,澤尼克像差(Zernike aberrations)及多波長(zhǎng)(250-400nm,400-1100nm,900-1700nm,1um-2.35um,3-5um& 8-12um)測(cè)量。
手持式紅外觀察鏡7215  
手持式紅外觀察鏡7215
美國(guó)Electrophysics 公司有近三十年研究和生產(chǎn)光電成像產(chǎn)品的歷史,其產(chǎn)品與服務(wù)在美國(guó)的工業(yè)、商業(yè)和政府機(jī)構(gòu)都享有較高的聲譽(yù)。
BeamOn WSR紅外光斑分析儀  
BeamOn WSR紅外光斑分析儀
以色列Duma Optronics 公司于1989年成立,是一家專(zhuān)業(yè)從事激光光束自動(dòng)化測(cè)量系統(tǒng)研發(fā)和生產(chǎn)的公司。其生產(chǎn)的光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品類(lèi)型豐富,功能全面。公司的Beam Analysis光束質(zhì)量分析儀主要有三種類(lèi)型:CCD類(lèi)型分析儀(最新產(chǎn)品)、亞毫米光束分析儀、刀口法類(lèi)型分析儀。
近紅外CMOS數(shù)字相機(jī)  
近紅外CMOS數(shù)字相機(jī)
近紅外CMOS 數(shù)字照相機(jī),帶USB2.0接口,設(shè)計(jì)用于個(gè)人電腦或筆記本電腦上。USB2.0接口高達(dá)400兆/秒的數(shù)據(jù)傳輸速率使得我們能夠在計(jì)算機(jī)上對(duì)圖片靈活的實(shí)時(shí)操縱,即使是在百萬(wàn)像素下設(shè)置的幀格式。該相機(jī)采用最新CMOS 傳感器,提高了相機(jī)的敏感度,每個(gè)照相單元中都含有微透鏡和級(jí)聯(lián)式增強(qiáng)。相機(jī)在使用時(shí)通過(guò)USB 數(shù)據(jù)線與電腦連接。該相機(jī)廣泛應(yīng)用于科學(xué)、醫(yī)療、工業(yè)等領(lǐng)域(如技術(shù)設(shè)備、機(jī)器視覺(jué)、顯微接口、測(cè)量相機(jī)、天文相機(jī)等)。
Electrophysics PV640 紅外熱像儀  
Electrophysics PV640 紅外熱像儀
Electrophysics PV640 紅外熱像儀(Uncooled Infrared Camera with VGA Resolution)結(jié)合先進(jìn)的640 x480分辨率的熱輻射成像數(shù)列技術(shù), PV640非致冷紅外攝像機(jī)提供了高分辨率VGA格式,它是一款理想的高分辨率和高熱靈敏度的紅外相機(jī)。
通用型功率計(jì)  
通用型功率計(jì)
Qioptiq提供OPM150通用型功率計(jì),適用于實(shí)驗(yàn)室激光測(cè)量。探頭規(guī)格有:190 - 1100 nm (10 x 10 mm), 800 - 1500 nm (Φ 5 mm), 800 - 1550 nm (10 x 10 mm), 800 - 1650 nm (Φ 3mm)and 400 - 1650 nm (Φ 3 mm)等5個(gè)規(guī)格。 軟件界面友好易用,功能包括數(shù)據(jù)顯示,數(shù)據(jù)記錄等,適用于實(shí)驗(yàn)室或測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)日常使用。同時(shí),該產(chǎn)品的小尺寸設(shè)計(jì)也將有利于OEM用戶的使用。COM-Port接口可通過(guò)Lab
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