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SID4 波前傳感器Phasics
 
   
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SID4 波前傳感器Phasics

法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。

  • 商品重量:250.000 克(g)
  • 貨  號:G59AF6D7EC6970
  • 品  牌:Phasics
  • 計量單位:
購買數(shù)量:
  (庫存9)
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  法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析,眼科虹膜定位波前像差引導等提供了全新的解決方案!

型號

SID4

孔徑

3.6 × 4.8 mm2

空間分辨率

29.6 μm

采樣點/測量點

160 × 120

波長

400 nm ~ 1100 nm

動態(tài)范圍

> 100 μm

精度

10 nm RMS

靈敏度

< 2 nm RMS

采樣頻率

> 60 fps

處理頻率

10 Hz (高分辨率)

尺寸

54 × 46 × 75.3 mm

重量

250 g


1.技術(shù)特點

◆高分辨率

◆消色差

◆高動態(tài)范圍

◆高靈敏度

◆操作簡便

◆設(shè)計簡潔緊湊

◆高性價比

2.技術(shù)優(yōu)勢

◆高分辨率的相位圖

能夠提供高分辨率的相位圖。標準分辨率為160120個采樣點。高分辨率的探測器能精確測量鏡片像差,并能做到較高的測量重復性。

◆具有直接測量高發(fā)散光束的能力

我們的波前探測技術(shù)具有直接測量光路系統(tǒng)相差的能力,并且無需額外的過渡鏡(參見下圖)。校準后的光束通過鏡片后直接測試。探測器可以測量波前傳輸時球面波的偏差。盡管有極大的光束偏差(如數(shù)值孔徑高達0.75),仍然可以做到光路系統(tǒng)與探測器間不使用過渡鏡就能測試。

◆消色差

SID4探測器能夠匹配CCD整個探測范圍,用于不同波長光而無需額外校準,也能用于多色光源。

◆對準方便

SID4傳感器無需精確的,很繁冗的校準步驟。分析算法為校準波前探測器提供便利。當布好探測器和光源后,光路系統(tǒng)測試部分可以直接放在光源和SID4探測器之間。并且,也可以很容易的調(diào)整光路系統(tǒng)以便于測試,還省去了使用過渡鏡以及用它帶來的光路位置調(diào)整和相差消除的麻煩。

◆符合人體工程學原理

設(shè)計緊湊的SID4探測器配置了電腦和專用KALEO軟件,其友好的人機界面使光學測量過程更符合人體工程學原理。

◆光學測量專用的KALEO軟件

SID4探測器為光學測量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測量中提供完整的測量項目的光學量值特征:相差,PSFMTF,有效焦距等。定制的特征報告也可編輯。

成功案例:

單位

型號

中國科學院上海光學精密機械研究所

SID4

南京理工大學

SID4

鄭州大學

SID4

上海交通大學

SID4

清華大學

SID4

武漢華工激光工程有限責任公司

SID4

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