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型號(hào) | SID4-HR |
孔徑 | 8.9 × 11.8 mm2 |
空間分辨率 | 29.6 μm |
采樣點(diǎn)/測(cè)量點(diǎn) | 400 × 300 |
波長(zhǎng) | 400 nm ~ 1100 nm |
動(dòng)態(tài)范圍 | > 500 μm |
精度 | 15 nm RMS |
靈敏度 | < 2 nm RMS |
采樣頻率 | > 10 fps |
處理頻率 | 3 Hz (高分辨率) |
尺寸 | 54 × 46 × 79 mm |
重量 | 250 g |
1. 技術(shù)特點(diǎn)
◆高分辨率(高達(dá)300 x400個(gè)采樣點(diǎn))
◆消色差
◆高動(dòng)態(tài)范圍
◆高靈敏度
◆操作簡(jiǎn)便
◆設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔緊湊
◆高性價(jià)比
2.技術(shù)優(yōu)勢(shì)
◆高分辨率的相位圖
能夠提供高分辨率的相位圖。最高分辨率可達(dá)400x300。高分辨率的探測(cè)器能精確測(cè)量鏡片像差,并能做到較高的測(cè)量重復(fù)性。
◆具有直接測(cè)量高發(fā)散光束的能力
我們的波前探測(cè)技術(shù)具有直接測(cè)量光路系統(tǒng)相差的能力,并且無需額外的過渡鏡(參見下圖)。校準(zhǔn)后的光束通過鏡片后直接測(cè)試。探測(cè)器可以測(cè)量波前傳輸時(shí)球面波的偏差。盡管有極大的光束偏差(如數(shù)值孔徑高達(dá)0.75),仍然可以做到光路系統(tǒng)與探測(cè)器間不使用過渡鏡就能測(cè)試。
◆消色差
SID4探測(cè)器能夠匹配CCD整個(gè)探測(cè)范圍,用于不同波長(zhǎng)光而無需額外校準(zhǔn),也能用于多色光源。
◆對(duì)準(zhǔn)方便
SID4傳感器無需精確的,很繁冗的校準(zhǔn)步驟。分析算法為校準(zhǔn)波前探測(cè)器提供便利。當(dāng)布好探測(cè)器和光源后,光路系統(tǒng)測(cè)試部分可以直接放在光源和SID4探測(cè)器之間。并且,也可以很容易的調(diào)整光路系統(tǒng)以便于測(cè)試,還省去了使用過渡鏡以及用它帶來的光路位置調(diào)整和相差消除的麻煩。
◆符合人體工程學(xué)原理
設(shè)計(jì)緊湊的SID4探測(cè)器配置了電腦和專用KALEO軟件,其友好的人機(jī)界面使光學(xué)測(cè)量過程更符合人體工程學(xué)原理。
◆光學(xué)測(cè)量專用的KALEO軟件
SID4探測(cè)器為光學(xué)測(cè)量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測(cè)量中提供完整的測(cè)量項(xiàng)目的光學(xué)量值特征:相差,PSF,MTF,有效焦距等。定制的特征報(bào)告也可編輯。
成功案例:
單位 | 型號(hào) |
中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所 | SID4-HR |
蘇州大學(xué) | SID4-HR |
清華大學(xué) | SID4-HR |
中國(guó)計(jì)量院 | SID4-HR |
中國(guó)工程物理研究院 | SID4-HR |
長(zhǎng)春理工大學(xué) | SID4-HR |
中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 | SID4-HR |