法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動態(tài)檢測范圍、操作簡便等獨(dú)特的優(yōu)勢。為波前像差、波前畸變的檢測以及激光光束及波前的測量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案！ PHASICS波前探測器依據(jù)其四波橫向剪切干涉專利技術(shù)，對哈特曼掩模技術(shù)進(jìn)行了大的升級、改進(jìn)。PHASICS波前傳感器將400X300的超高分辨率和500um的超大動態(tài)范圍完美結(jié)合在了一起。可以滿足不同的客戶的應(yīng)用需求，可對激光光束進(jìn)行光強(qiáng)、位相、PSF（點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)）、MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）、OTF（光學(xué)傳遞函數(shù)）、波前像差、M2等進(jìn)行實(shí)時、簡便、快速的測量。

1. 技術(shù)特點(diǎn)

◆高分辨率

◆消色差

◆高動態(tài)范圍

◆高靈敏度

◆操作簡便

◆設(shè)計(jì)簡潔緊湊

◆高性價比

2.技術(shù)優(yōu)勢

◆高分辨率的相位圖

能夠提供高分辨率的相位圖。標(biāo)準(zhǔn)分辨率為80ｘ60個采樣點(diǎn)，高分辨率的探測器能精確測量鏡片像差，并能做到較高的測量重復(fù)性。

◆具有直接測量高發(fā)散光束的能力

我們的波前探測技術(shù)具有直接測量光路系統(tǒng)相差的能力，并且無需額外的過渡鏡（參見下圖）。校準(zhǔn)后的光束通過鏡片后直接測試。探測器可以測量波前傳輸時球面波的偏差。盡管有極大的光束偏差（如數(shù)值孔徑高達(dá)0.75），仍然可以做到光路系統(tǒng)與探測器間不使用過渡鏡就能測試。

◆消色差

SID4探測器能夠匹配CCD整個探測范圍，用于不同波長光而無需額外校準(zhǔn)，也能用于多色光源。

◆對準(zhǔn)方便

SID4傳感器無需精確的，很繁冗的校準(zhǔn)步驟。分析算法為校準(zhǔn)波前探測器提供便利。當(dāng)布好探測器和光源后，光路系統(tǒng)測試部分可以直接放在光源和SID4探測器之間。并且，也可以很容易的調(diào)整光路系統(tǒng)以便于測試，還省去了使用過渡鏡以及用它帶來的光路位置調(diào)整和相差消除的麻煩。

◆符合人體工程學(xué)原理

設(shè)計(jì)緊湊的SID4探測器配置了電腦和專用KALEO軟件，其友好的人機(jī)界面使光學(xué)測量過程更符合人體工程學(xué)原理。

◆光學(xué)測量專用的KALEO軟件

SID4探測器為光學(xué)測量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測量中提供完整的測量項(xiàng)目的光學(xué)量值特征：相差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征報告也可編輯。

成功案例